联系人：王寅

生产厂家：日本日立

型号：S4800

主要规格及技术指标

1、二次电子分辨率：1.0 nm (15 kV)；2.0 nm (1 kV)； 

2、背散射电子分辨率：3.0 nm (15 kV);

3、加速电压：0.5～30 kV ;

4、电子枪：冷场发射电子源;

5、放大倍率：30～800,000倍;

6、X射线能谱仪的元素分析范围：Be4～U92

主要功能及应用范围

用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织，并对材料表面微区成分进行定性和定量分析，主要用途如下：

1、金属、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、变形层等的观察；

2、材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定； 

3、金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定；

4、纳米材料及其它无机或有机固体材料的粒度观察和分析 ；

5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析。